X 射線顯微鏡是X 射線成像術(shù)的一種，也是顯微成像技術(shù)，即將微觀的、肉眼無(wú)法分辨看出的結(jié)構(gòu)、圖形放大成像以便觀察研究的器械。X 射線成像的襯度原理、設(shè)備的構(gòu)造與主要組成部件( 如X射線源、探測(cè)器等)，但主要是從宏觀物體的成像( 如人體器管的醫(yī)學(xué)成像、機(jī)械制品的缺陷探傷、機(jī)場(chǎng)車站的安全檢查等) 出發(fā)的。宏觀成像與微觀成像有相通之處，如襯度原理、設(shè)備的主要組成部件等，但也有區(qū)別。
高分辨X射線顯微鏡平臺(tái)的DCT采用獨(dú)特的光路設(shè)計(jì)，為提高衍射信號(hào)的采集增益，X射線的光路上增加了光闌(Aperture)和擋光板(Beamstop)兩個(gè)勞厄光學(xué)組件。友碩小編介紹光闌設(shè)置在光源和樣品之間，用以控制入射X射線范圍，保證合適數(shù)量的晶粒同時(shí)被照亮。擋光板組件設(shè)置于樣品與探測(cè)器之間，用以阻隔透射的X射線，提高衍射信號(hào)的信噪比。
Lab-based DCT技術(shù)光路設(shè)計(jì)及工作原理：
這種光路設(shè)計(jì)適用于基于Xradia Versa平臺(tái)的LabDCT Pro系統(tǒng)和基于平板架構(gòu)的CrystalCT系統(tǒng)。對(duì)于LabDCT系統(tǒng)，由于探測(cè)器分辨率和靈敏度較高，擋光板和探測(cè)器可設(shè)置在勞厄聚焦位置，即光源到樣品的距離(LSS)等于樣品到探測(cè)器的距離(LSD)，對(duì)于CrystalCT系統(tǒng)，由于平板探測(cè)器像素較大，衍射襯度成像同樣需要使用幾何放大來(lái)提高衍射斑的像素?cái)?shù)目和分辨率，即光源到樣品的距離(LSS)要小于樣品到探測(cè)器的距離(LSD)。基于這樣的架構(gòu)，在每個(gè)旋轉(zhuǎn)位置，符合布拉格衍射條件的晶粒將入射的X射線在探測(cè)器上被記錄衍射信號(hào)。每個(gè)Lab-based DCT實(shí)驗(yàn)需要采集一組吸收襯度數(shù)據(jù)和一組衍射襯度數(shù)據(jù)，然后在軟件內(nèi)進(jìn)行重構(gòu)。
更新時(shí)間：2022-12-22
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